常压扫描开尔文探针 - 开尔文探针 - 高速相机_高速摄像机

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开尔文探针Kelvin Probe

常压扫描开尔文探针

扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函数或半导体材料表面电势，表面功函数是由材料表面外层的1-3层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV分辨率的扫描测试系统。

主要特点：
● 功函分辨率：优于 3meV
● 扫描面积：50mm to 300mm
● 扫描分辨率：317.5nm
● 自动高度调节

应用领域：
● 有机和非有机半导体
● 金属
● 薄膜
● 太阳能电池和有机光伏材料
● 腐蚀