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    开尔文探针Kelvin Probe
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    环境受控扫描开尔文探针

    扫描开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置,用于测试导电材料的功函数或半导体材料表面电势,表面功函数是由材料表面外层的1-3层原子或分子决定,因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术,KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV分辨率的扫描测试系统。




    主要特点:
    ● 功函分辨率:优于 3meV
    ● 扫描面积:50mm to 300mm
    ● 扫描分辨率:317.5nm
    ● 自动高度调节

    应用领域:
    ● 有机和非有机半导体
    ● 金属
    ● 薄膜
    ● 太阳能电池和有机光伏材料
    ● 腐蚀